HAST高壓加速老化試驗箱用 途：HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱，用于車規級芯片，IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，測試其制品的密封性和老化性能。
應用領域：
PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片……
HAST高壓加速老化試驗箱特 點：
●真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性；
● 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時；
● 干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(待測品)的干燥；
● 水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護；
● 耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；
HAST高壓加速老化試驗箱滿足標準：
AEC Q101（車規級芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱
JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
HAST高壓加速老化試驗箱技術規格：
型號
SEST-S250
SEST-S350
SEST-S450
SEST-S550
工作室尺寸(cm)
?20×30
?30×40
?40×50
?50×60
性
溫度范圍
+100℃～+132℃ / +145℃ / +150℃
濕度范圍
100%RH飽和蒸汽（不可調）// 65%RH～100%RH非飽和蒸汽（可調）
溫度均勻度
≤2℃
濕度均勻度
≤±5%RH
壓力范圍
1.2～2.89kg(含1atm)
加壓時間
約45/Min
溫度控制器
中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（SETH/控制軟件）
循環方式
強制對流循環方式
結構
標準壓力容器
加濕系統
電熱管
加濕用水
蒸餾水或去離子水（自動補水）
Bias偏壓端子
含偏壓端子（選配訂購時需注明）
加壓方式
1.鍋爐蒸汽加壓；2.外部氣體加壓
材料
外殼材料
冷軋鋼板靜電噴塑(SETH/標準色)
內壁材料
SUS316不銹鋼板
保溫材料
玻璃纖維棉
電壓
220V～240V 50/60HZ單相
能